这是一项服务:我们在埃斯波的实验室测量您的样品,并与您一起解读结果。 想改为在自己的实验室中测量?请参见 Tapio Analyzers。
Tapio Analysis 的用途
Tapio Analysis 是针对纸张、纸板、生活用纸和非织造布的高分辨率同位置波动分析:其细致程度远远超过单点式实验室测试或在线测量所能显示的内容。您的样品在 Tapio Analyzer 上测量,定量、厚度、透射率、灰分和双面光泽度对齐到纸样上的相同位置,Tapio 软件再将观察到的波动与生产线上的已知频率联系起来:辊、毛毯、成形网、泵和执行器间距。
由于各通道相互对齐,波动出现在哪个通道就指向它产生于何处。质量的波动指向湿部,仅厚度的波动指向压榨或压光,某一面的波动则指向该表面。
同样的测量也能在相同条件下比较纸机、纸种、供应商或工况。查找故障时,常常是将已知有问题的卷筒与没有问题的卷筒进行比较,看两者的差异。
MD 分析和 CD 分析
每个项目都是其中之一,或两者兼有。请根据您的问题所在的方向寄送样品;我们会在确认范围时确认采用哪一种。

MD 分析:沿幅材方向
您寄送一个或多个在复卷机上分切的 MD 样卷。我们测量整个样卷,以毫米级分辨率查看各质量参数如何沿样品变化,并以最高分辨率测量样卷开头部分,用于匀度和细微结构。然后我们研究通道数据,判断波动来自何处,以及其水平是否正常。
它能解答: 周期性波动(有缺陷的辊、压光机、毛毯、成形网、横条痕、压力脉动、压力筛、泵)、哪些机器部件可能是某一峰值的原因、复卷机振动,以及某台纸机、某个纸种或某次试验与其他对象或与我们存档数据的比较。

CD 分析:横跨幅材方向
您寄送取自同一母卷的全幅宽 CD 样条;手工裁切的样条也可以。我们测量每一条样条,直接横跨,从一侧边缘到另一侧边缘。平均曲线显示可重复的 CD 波动,并带有由样条间离散度得出的置信带;CD 频谱上标注您的执行器间距;您的扫描架曲线可以叠加在我们的曲线上。
它能解答: CD 曲线问题、条带、软边或硬边、执行器尺度的波动、往复式扫描架平均掉了什么、不同母卷、纸种或纸机之间的比较,以及 CD 曲线稳定性(方差分量分析)。

典型问题
| 您看到的现象 | 应寄送的样品 | 分析显示的内容 |
|---|---|---|
| 横条痕,或沿幅材方向的周期性痕迹 | MD 样卷,最好一个来自出现问题的时段,一个来自没有问题的时段 | 波长、哪些通道带有该波动,以及与之匹配的可能机器部件 |
| 复卷机振动、卷筒晃动、卷径不均 | MD 样卷;如果复卷组内各卷筒存在差异,再加 CD 样条 | 可能在卷筒中累积的周期性厚度波动,及其背后可能的辊或网毯 |
| CD 曲线问题、条带、软边或硬边 | CD 样条,以及您的扫描架曲线 | 直接横跨幅材测量的 CD 曲线(包括边部)、执行器尺度的波动,以及我们的曲线与扫描架曲线的对比 |
| 纸页波动比以前更大,或比同类纸机更大 | 两者的 MD 样卷或 CD 样条 | 大多少、在哪些波长和哪些性能上,以及与早期测量的比较 |
| 印刷斑驳、光泽度波动、匀度投诉 | MD 样卷或 CD 样条 | 双面光泽度、透射率、匀度和絮团尺寸,直至短波长 |
| 需要评估的改造、试验或新供应商 | 改动前后的样品,或每个选项的样品 | 以相同设置计算的各样品的统计值和频谱 |
描述您的情况,我们会在寄送任何样品之前,连同范围一起确认样品方案。
服务流程
- 01
描述您的情况
在申请表中告诉我们您的纸机、纸种和问题。
- 02
获得确认的范围和报价
在您寄送任何样品之前,我们确认范围、价格、样品说明和运输事宜,通常在一个工作日内完成。
- 03
寄送样品
按照样品准备说明,根据约定准备 MD 样卷、CD 样条或两者,并通过快递寄到我们在埃斯波的实验室。
- 04
测量、报告和讨论
我们在样品到达后两个工作日内完成测量,分析数据并发送报告。然后在线上会议中一起讨论结果。报告时间表在确认范围时商定。
您需要寄送的内容
- 按范围约定的 MD 样卷、CD 样条或两者。如果您无法将卷筒裁切到规定尺寸,请寄送现有的卷筒,由我们安排裁切。
- 您的问题:纸种、标称定量以及您观察到的现象。
- 纸机数据(如有):车速;MD 需要辊径、网毯长度和泵转速;CD 需要 CD 执行器间距;以及用于比较的扫描架曲线。
尺寸、数量和标记:样品准备说明。我们会在您寄送之前针对您的范围进行确认。
您将得到的内容
每个项目都包括:
- 测量数据,可在免费的 Tapio Analysis 软件中打开;
- 书面结果报告,以您的问题为开篇;
- 与 Tapio 专家进行的线上结果讨论。
根据范围不同,例如:一份浏览器报告(输入车速后可将每个波长显示为 Hz,并可打印为 PDF)、图表及所引用全部数值的表格、涵盖每个卷筒和通道的原始数据报告,以及一份结果幻灯片。我们会在确认范围时确认交付内容。
波长匹配或强相关性是可能来源的证据,而不是证明。如果测量无法确定某个问题,报告会说明需要怎样才能确定。
示例
Tapio Analysis 是我们用来测量和查找质量波动来源的主要工具,这些波动是其他测量系统无法检测到的。其结果能够准确指出需要修理或维护的机器部件,从而减少生产过程中的猜测。Tapio Analysis 是我们主要的诊断支持工具。
Tapio Analysis 实验室测量能够揭示在线扫描架并不总能检测到的真实 MD 和 CD 波动。它是排查纸机质量问题的出色工具。
结果是什么样的
以下是用于研究测量数据的结果图和分析图示例。这些视图直接来自 Tapio Analysis 软件。

沿卷筒的曲线
MD 分析
沿卷筒以毫米级分辨率显示每个通道,并给出其平均值、偏差、CV 和范围。

沿卷筒的周期性波动
MD 分析
时频谱图显示周期性分量是沿卷筒稳定存在(如此处的线条),还是时有时无。

CD 曲线
CD 分析
所有样条的平均值及其 95 % 置信带。真实的 CD 特征会从样条之间的噪声中显现出来。

每一条样条
CD 分析
每条样条单独成一条线。在每条样条中都出现的特征是 CD 特征;只在一条样条中出现的凸起则不是。

CD 曲线稳定性
CD 分析
方差分量分析将波动分解为可重复的 CD 部分、样条之间的 MD 部分和其余部分,曲线的稳定性正是这样测量的,纸机在改动前后也是这样比较的。

CD 频谱
CD 分析
CD 曲线的频谱将横跨幅材的周期性波动显示为其波长处的峰值。如果峰值位于流浆箱、涂布机或压光机的规则执行器间距上,则指向该排执行器;可重复的 CD 波动与样条之间的波动分开绘制。

两个通道相互对照
MD 分析 CD 分析
由于每个通道都对齐到相同位置,任意两项性能都可以逐点相互对照作图。此处厚度跟随定量变化,说明厚度波动伴随质量波动,而不是仅仅来自压榨。

相关矩阵
MD 分析 CD 分析
在一个视图中显示所有通道(测量通道和导出通道)的两两对照,并给出每一对的相关系数。

对比报告
定制报告
在比较纸机、纸种、试验或供应商时,报告在相同条件下绘制每个样品:相同的长度、相同的滤波和相同的坐标轴,并在旁边给出统计值。此例依据匿名存档测量数据,比较四台纸机的厚度。
将频谱峰值(测量数据中的波长)与机器部件匹配
在 MD 样品中,周期性波动常常由生产线上的旋转部件引起。周期性波动在测量中表现为一个波长;在给定车速下,该波长对应一个以 Hz 表示的频率;当辊、毛毯、成形网和泵的旋转频率已知时,就可以将它与可能产生该波动的部件进行比较。一根每转留下一次痕迹的辊,其周长就是波长,因此波长除以 π 可得到可能产生该痕迹的辊的直径。借助您的纸机数据,Tapio Analysis 软件会在频谱上绘制每个部件的波长,并突出显示最接近所选峰值的部件。
厚度频谱 · 将峰值与机器部件匹配
比较纸机、纸种和试验
比较两种或多种材料时,每条记录都截取相同的长度,每个频谱都用相同的设置计算。下面是四台匿名纸机的厚度频谱。周期性来源表现为宽带本底之上的单个尖峰;整体波动较大的纸页则在整个频带上都高于其他样品。
厚度频谱对比 · 四台纸机
与 Tapio 测量档案对标
四个样品的比较能说明四者中哪一个不同,但不能说明其中是否有哪一个属于异常。为此,可以将每个通道的变异系数与 Tapio 早期测量的档案进行对照,并按测量方向、定量等级和记录长度进行匹配,因为变异系数会随记录长度增加而增大。下方每个小提琴图是档案中一个通道的分布,每个点代表一台纸机。最左侧的点比档案中几乎所有测量都稳定;最右侧的点则比几乎所有测量的波动都大。
与测量档案对比的波动 · CV %
范围和局限
| Tapio Analysis 服务 | |
|---|---|
| 材料 | 纸张、纸板、生活用纸和非织造布品种;我们在您寄送之前确认适用性 |
| 性能指标 | 定量、厚度、透射率、灰分和双面光泽度;由此导出密度、松厚度和相对灰分。反射率,以及适用纸种的透气度 |
| 采样 | 每个通道 1000 Hz;有效测量分辨率:CD 样条在 0.1 m/s 下约为 1 mm,MD 样卷在 1 m/s 下约为 10 mm,并进一步受各传感器孔径的限制 |
| 时间 | 样品到达后两个工作日内完成测量;报告时间表在确认范围时商定 |
| 价格 | 用价格计算器估算;最终价格在您寄送之前确认 |
| 能说明和不能说明的内容 | 波动的位置、波长和所涉及的性能,以及哪些来源有可能。频谱匹配或相关性是需要在纸机上核查的线索,而不是证明 |
| 其他测试 | 抗张强度、伸长率及其他破坏性测试可通过我们的合作伙伴以曲线形式增加,方法是在 Tapio 测量之后裁切样品 |
常见问题
它与在线 QCS 扫描架有何不同?
往复式 QCS 扫描架是为过程控制而设计的。它沿对角路径横穿运行中的幅材,因此纵向和横向波动混杂在一起,其测量点尺寸和平均处理也会平滑短波长。我们在实验室中测量连续的 MD 样品和直接横跨幅材裁切的 CD 样条,各通道对齐到相同位置。两者互为补充。
它与普通实验室测试有何不同?
普通实验室测试给出的是单个数值或平均值,而且往往来自不同的样品。Tapio 传感器遵循相同的纸张测试原理,但以无损方式测量连续曲线,并从同一纸条上测量多项性能。这使得频谱分析和性能之间的直接相关分析成为可能。
它能显示哪些平均值、标准差或 CV% 显示不出的内容?
两个样品可以有相同的平均值和相同的 CV%,但波动方式却完全不同。分析显示波动位于短波长还是长波长,是宽带的还是周期性的,以及同样的波动是否出现在多项性能中。这样可以把随机的材料波动与重复出现的、与工艺相关的模式区分开。
我们需要知道疑似部件吗?
不需要。我们可以先对测得的波动进行表征。要查找可能的来源,基本的纸机数据会有帮助:车速、辊径、网毯长度、泵转速和 CD 执行器间距。有了这些数据,就可以将周期性波动与可能的部件进行比较。
分析能证明根本原因吗?
它能缩小可能原因的范围,并可指出可能的机器部件,但波长匹配或相关性是可能来源的证据,而不是证明。报告将测量结果与对结果的解释分开,并建议下一步检查什么。即使无法确定单个部件,改动前后的比较以及纸种或供应商之间的比较也是有用的。
能否将我们的样品与其他工厂、供应商或我们自己的 QCS 进行比较?
可以。我们比较总波动、波长分布、周期性分量和性能之间的相关性,并可将每个通道与可比的早期测量进行对照。您的扫描架曲线和早期 Tapio 测量可以纳入比较,例如用于改动前后的对比。
我们需要自己使用 Tapio Analysis 软件吗?
不需要。测量和分析由我们完成,并提交报告。如果您想自己查看数据,Tapio Analysis 软件免费开源,其加载器可以扩展以读取 QCS 或其他曲线数据。